In-Circuit-Tests

Der In-Circuit-Test kurz auch ICT genannt ist ein Testverfahren für bestückte Leiterplatten und elektronische Baugruppen in der Elektronikfertigung. Bei diesem Prüfverfahren wird die bestückte Leiterplatte auf Fehler untersucht. Der In-Circuit Test wird durch das Auflegen eines speziellen Prüfadapters auf die bestückte Leiterplatte durchgeführt. Es können Prüfungen von Bauteilen, Verbindungen und auch funktionale Tests durchgeführt werden.